名稱：認證服務車規(guī)級電子元器件AEC-Q認證測試CNAS認可
更新日期：2025-08-30
名稱：微觀分析雙束掃描電子顯微鏡檢測CMA/CNAS認可
更新日期：2025-08-30
名稱：JESD22腐蝕測試_工業(yè)級驗證_第三方實驗室
更新日期：2026-03-30
名稱：晶體結(jié)構(gòu)與取向分析_微觀結(jié)構(gòu)表征_EBSD測試
更新日期：2026-03-27
名稱：IPC錫須測試_抗錫須評估_第三方檢測
更新日期：2026-03-27
名稱：高精度硅光測試_自動化測試系統(tǒng)_晶圓級測試
更新日期：2026-03-27
名稱：快速無損檢測_X射線能譜分析_專業(yè)第三方
更新日期：2026-03-27
名稱：電子元件耐腐蝕性|電化學腐蝕測試|壽命預測
更新日期：2026-03-26
名稱：微觀晶體學表征_織構(gòu)與晶界分析_基于EBSD
更新日期：2026-03-26
地址：廣州市番禺區(qū)石碁鎮(zhèn)創(chuàng)運路8號廣電計量科技產(chǎn)業(yè)園
電話：400-602-0999
郵箱：limx3@grgtest.com
傳真：
官方商城
掃一掃,關注我們
點擊交流